ورود به سامانه عضویت

سامانه کنفرانس انجمن هسته‌ای ایران

  • صفحه اصلی
  • درباره انجمن
  • آرشیو مقالات
  • اخبار
  • تماس با ما

  1. صفحه اصلی
  2. مقالات منتشر شده
نویسنده =
تعداد مقالات: 1

1 An investigation into the role of LET and supply voltage in determining the critical charge for Single Event Upset in a 65-nm CMOS SRAM
Masume Soleimaninia، Gholamreza Raisali، Amir Moslehi
مشاهده مقاله اصل مقاله 379.67 K

دسترسی سریع

اشتراک خبرنامه

با وارد کردن نشانی پست الکترونیکی خود جدید ترین اخبار را دریافت کنید.
سامانه مدیریت همایش های علمی. طراحی و پیاده سازی از سیناوب