شبیه سازی مونت کارلوی پرتودهی یک سیب با اندازه معمول توسط باریکه الکترونی و اشعه ایکس کم انرژی

عنوان دوره: بیست و نهمین کنفرانس ملی هسته‌ای ایران
نویسندگان
داشنگاه شیراز-دانشکده مکانیک-رئیس مرکز تحقیقات تابش دانشگاه شیراز/استادیار بخش مهندسی هسته ای
چکیده
پرتودهی مواد غذایی به طور موثر میکروارگانیسم‌های بیماری‌زا را که عمدتاً در سطح وجود دارند، از بین می‌برد. اخیراً توجه زیادی به استفاده از تابش کم‌انرژی برای پرتودهی مواد غذایی شده است. بررسی دوزیمتری مواد غذایی با اشکال پیچیده از نظر تجربی چالش برانگیز است. در مطالعه حاضر، یک شبیه‌سازی مونت‌کارلو برای مقایسه توزیع دوز پرتوهای ایکس و الکترون‌ کم‌انرژی در یک سیب با اندازه معمولی انجام شد. همچنین آسیب‌های DNA ناشی از الکترون‌های ثانویه در یک مدل سلولی باکتری بررسی شد. نتایج نشان داد که در مقیاس میکروسکوپی، بازده شکست‌های تک و دورشته‌ای DNA ناشی از اشعه ایکس و الکترون‌ کم‌انرژی با انرژی‌های مختلف تقریباً یکسان است. در مقیاس ماکروسکوپی، پرتودهی الکترونی دوطرفه به اضافه یک چرخش 90 درجه‌ای سیب یکنواختی دوز مناسبی را در سطح سیب فراهم می‌کند، اما اشعه ایکس به دلیل نسبت یکنواختی سطح کمتر تا عمق mm 1، نسبت به الکترون‌ها برای پاکسازی سطحی سیب برتری دارد.
کلیدواژه ها